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光电效应以及普朗克常数的测量
实验二十九光电效应及普朗克常数的测量
光电效应是指一定频率的光照射在金属外表时会有电子从金属外表逸出的现象。
光电效应实验对于认识光的本质及早期量子理论的开展,具有里程碑式的意义。
普朗克常数是量子力学当中的一个根本常量,它首先由普朗克在研究黑体辐射问题时提出,其值约为
,它可以用光电效应法简单而又较准确地求出。
1905年,爱因斯坦借鉴了普朗克在黑体辐射研究中提出的辐射能量不连续观点,并应用于光辐射,提出了“光量子〞概念,建立了光电效应的爱因斯坦方程,从而成功地解释了光电效应的各项根本规律,使人们对光的本性认识有了一个飞跃。
1916年密立根用实验验证了爱因斯坦的上述理论,并准确测量了普朗克常数,证实了爱因斯坦方程。
因光电效应等方面的出色奉献,爱因斯坦与密立根分别于1921年和1923年获得了诺贝尔奖。
作为第一个在历史上实验测得普朗克常数的物理实验,光电效应的意义是不言而喻的。
一、实验目的
1.了解光电效应的规律,加深对光的量子性的理解。
2.测量普朗克常数h。
二、实验仪器
图1仪器构造示意图
123456789
1测试仪;2光电管暗盒;3光电管;4光阑选择圈;5滤色片选择圈;6基座;7汞灯暗盒;8汞灯;9汞灯电源
仪器由汞灯及电源、滤色片、光阑、光电管、测试仪〔含光电管电源和微电流放大器〕构成,仪器构造如图1所示,测试仪的调节面板如图2所示。
汞灯:
可用谱线365.0nm、404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm、579.0nm
滤色片:
5片,透射波长365.0nm、404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm
光阑:
3片,直径分别为2mm、4mm、8mm
光电管:
阳极为镍圈,阴极为银-氧-钾〔Ag-O-K〕,光谱响应范围320~700nm,暗电流:
I≤2×10-13A〔-2V≤UAK≤0V〕
光电管电源:
2档,-2~0V,-2~+30V,三位半数显,稳定度≤0.1%
微电流放大器:
6档,10-8~10-13A,分辨率10-13A,三位半数显,稳定度≤0.2%。
图2测试仪面板图
三、实验原理
1、光电效应
爱因斯坦认为光在传播时其能量是量子化的,其能量的量子称为光子,每个光子的能量正比于其频率,比例系数为普朗克常量,即E=h,当光子照射到金属外表上时,一次为金属中的电子全部吸收,而无需积累能量的时间。
电子把这能量的一局部用来克制金属外表对它的吸引力,余下的就变为电子离开金属外表后的动能,按照能量守恒原理,爱因斯坦提出了著名的光电效应方程:
〔1〕
式中,A为金属的逸出功,
为光电子获得的初始动能,
为最大速度,m为光电子的质量,
为光的频率,h为普朗克常数。
光电效应的实验原理如图3所示。
入射光照射到光电管阴极K上,产生的光电子在电场的作用下向阳极A迁移构成光电流,改变外加电压UAK,测量出光电流I的大小,即可得出光电管的伏安特性曲线。
ν1
ν2
ν0
ν
图3
实验原理图
图4
同一频率,不同光强时光电管的伏安特性曲线
图5
不同频率时光电管的伏安特性曲线
图6
截止电压U0与入射光频率ν的关系图
光电效应的根本实验原理如下:
〔1〕对于某一频率,光电效应的I-UAK关系如图4所示。
从图中可见,对一定的频率,有一电压U0,当UAK≤U0时,电流为零,也就是这个负电压产生的电势能完全抵消了由于吸收光子而从金属外表逸出的电子的动能。
这个相对于阴极的负值的阳极电压U0,被称为截止电压。
〔2〕当UAK≥U0后,电势能缺乏以抵消逸出电子的动能,从而组件产生电流I。
I迅速增加,然后趋于饱和,饱和光电流IM的大小与入射光的强度P成正比。
〔3〕对于不同频率的光,由于它们的光子能量不同,赋予逸出电子的动能不同。
显然,频率越高的光子,其产生逸出电子的能量也越高,所以截止电压的值也越高,如图5所示。
〔4〕作截止电压U0与频率的关系图如图6所示。
U0与成正比关系。
显然,当入射光频率低于某极限值0〔0随不同金属而异〕时,不管光的强度如何,照射时间多长,都没有光电流产生。
〔5〕光电效应是瞬时效应。
即使入射光的强度非常微弱,只要频率大于0,在开场照射后立即有光电子产生,所经过的时间至多为10-9秒的数量级。
说明:
实际中,反向电流并不为零。
图4、图5中从零开场,是因为反向电流极小,仅为10-13~10-14数量级,所以在坐标上反映不出来。
由〔1〕式可见,入射到金属外表的光频率越高,逸出的电子动能越大,所以即使阳极电位比阴极电位低时也会有电子落入阳极形成光电流,直至阳极电位低于截止电压,光电流才为零,此时有关系:
〔2〕
阳极电位高于截止电压后,随着阳极电位的升高,阳极对阴极发射的电子的收集作用越强,光电流随之上升;当阳极电压高到一定程度,已把阴极发射的光电子几乎全收集到阳极,再增加UAK时I不再变化,光电流出现饱和,饱和光电流IM的大小与入射光的强度P成正比。
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