W电磁干扰测试指导书0330A30.docx
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W电磁干扰测试指导书0330A30
产品名称
密级
WCDMARNP
内部公开
产品版本
共62页
3.0
WCDMA电磁干扰测试指导书
(仅供内部使用)
拟制:
王德凯
日期:
2006-02-05
审核:
何峰明、胡明超、胡文苏、万亮、谢智斌
日期:
2006-03-19
审核:
秦燕、王纯桂
日期:
2006-03-19
批准:
日期:
华为技术有限公司
版权所有XX
修订记录
日期
修订版本
修改描述
作者
2002-04-25
1.00
初稿完成
项利进、刘勇、袁本贵
2003-05-21
2.00
增加LNA,提高YBT250的接收灵敏度,并且对测试方法进行修改
王德凯
2006-03-19
3.00
根据评审意见对附录中的YBT250使用操作部分进行更新。
王德凯
目录
1概述7
2测试仪器准备7
3清频操作过程8
3.1确定测试方位8
3.2仪器参数设置9
3.3干扰搜索9
3.3.1上下行定点干扰测试过程9
3.3.2下行驱车干扰测试过程(可选)17
4干扰查找操作过程18
5干扰数据分析18
6附录19
6.1YBT25019
6.1.1仪器简介19
6.1.2仪器基本性能和用户界面20
6.1.3仪器操作说明32
6.2常见干扰设备52
6.2.1FDDWLL53
6.2.2TDDWLL(PHS/DECT)53
6.2.3GSM基站54
6.2.4微波传输54
6.2.5直放站55
6.2.6其它原因55
6.3各频段干扰要求55
6.4各组件指标58
6.4.1频谱仪58
6.4.2FILTER60
6.4.3低噪放大器LNA61
6.4.4天线61
表目录
表1测试前需要准备的仪器和资料8
表2YBT250关键参数9
表3频段扫描测试参数设置9
表4SPAN=60MHz上行干扰测试参数设置11
表5SPAN=60MHz下行干扰测试参数设置11
表6SPAN=5MHz上行干扰测试参数设置13
表7SPAN=5MHz下行干扰测试参数设置13
表8采用Spectrogram方法SPAN=10MHz上行间歇干扰测试参数设置15
表9SPAN=10MHz下行间歇干扰测试参数设置15
表10采用Spectrum方法SPAN=10MHz上行间歇干扰测试参数设置16
表11采用Spectrum方法SPAN=10MHz下行间歇干扰测试参数设置16
表12下行驱车干扰测试参数设置17
表13采用Spectrum方法SPAN=5MHz下行驱车干扰测试参数设置17
表14YBT250的基本性能20
表15YBT250频谱仪SPAN和RBW的对应关系20
表16YBT250测量窗口中的公共按钮和图标42
表17WCDMA码域功率测量显示项46
表18我国在1.8GHz及1.9GHz频段的规划表52
表19影响UE接收的干扰要求56
表20NodeB接收的干扰要求57
表21常见干扰测试频谱仪58
表22YBT250频谱仪SPAN和RBW的对应关系59
表23上行和下行带通滤波器指标60
表24低噪放大器指标61
表25八木天线的主要技术参数61
图目录
图1电磁干扰测试全频段扫描示意图7
图2电磁干扰测试所用频段干扰测试示意图7
图3连接LNA时在YBT250中设置增益10
图4Trace2的调用设置窗口12
图5存在间歇干扰的三维频谱图16
图6YBT250电池的安装与拆卸22
图7YBT250外部100to240V电源或者车载电源供电23
图8YBT250的开关指示24
图9YBT250的输入端口25
图10YBT250操作流程图33
图11连接LNA时在YBT250中设置增益33
图12YBT250Spectrum模式34
图13YBT250Spectrogram模式34
图14YBT250Markers及测试频点信息35
图15YBT250调用以前保存Trace的Trace2设置窗口36
图16YBT250间歇干扰测试时长设置37
图17YBT250间歇干扰出现时间38
图18Noise模式测试结果39
图19Identify模式测试结果40
图20Strength模式测试结果41
图21AudioDemod模式测试结果42
图22YBT250RF功率测试43
图23YBT250功率峰均比测试44
图24YBT250载波频率测试44
图25YBT250占用带宽测试45
图26YBT250WCDMA信号质量测试45
图27YBT250WCDMA码域功率测试46
图28YBT250中设置扰码47
图29WCDMA三维码谱测试47
图30YBT250WCDMA导频信道功率测试(选件WD1)48
图31YBT250WCDMA导频信道功率测试(选件WD2)48
图32YBT250WCDMA邻道泄漏比(ACLR)测试49
图33YBT250重新调用测试结果50
图34YBT250记录的某次频谱测试结果50
图35频谱测试结果导出为“csv”格式文件51
图36导出图片与导出Traces的比较52
图37三种图片格式的比较52
图38杂散干扰示意54
图39YBT250参数59
图40带通滤波器示意图60
WCDMA常见仪器使用方法指导书
关键词:
WCDMA电磁干扰频谱仪
摘要:
本文介绍了在建设WCDMA网络前,为了保证使用的频段各项电磁指标达到网络运行的条件,使用专门仪器对覆盖区域进行电磁背景干扰测试,获得的数据将作为网络开通前的参考。
在网络运行以后,可以使用相同的办法进行电磁背景干扰测试,但是需要考虑系统本身造成的电磁辐射。
本指导书主要针对系统外的相同频段或者接近频段的电磁干扰。
缩略语清单:
缩略语
英文全名
中文解释
RBW
ResolutionBandwidth
分辨带宽
WCDMA
WidebandCodeDivisionMultipleAccess
宽带码分多址
RF
RadioFrequency
射频
RMS
RootMeanSquare
均方根
1
概述
WCDMA系统属于干扰受限系统,网络的质量、容量和覆盖都与背景噪声相关。
在进行无线网络设计时,需要获得覆盖区域的背景噪声强度;如果频段内内存在强干扰,需要进行清频工作或者申请新的频点。
WCDMA电磁背景干扰测试分为两个阶段,一是建网前,进行站点选择时,需要确认在所用频段内是否存在强干扰或者噪声抬升;另一阶段是网络运行后,发现有干扰,需要查找干扰源。
WCDMA电磁背景干扰测试是相当重要又极其复杂的工作,工程师必须了解WCDMA抗干扰的基本原理,并且要对各类干扰有基本的认识。
在实际测试中,时间和地点的选择十分重要,一定要保证高话务区域在不同的时间段内都获得足够的数据。
2测试仪器准备
WCDMA电磁背景干扰测试的系统框图如下,图1用于做全频段的信号扫描,观察各频段上的信号强度,发现可能的干扰。
图2用于发现发现测试频段内的干扰以及噪声抬升,并得到在5MHz带宽内的干扰大小。
根据Friis公式,图1中系统的噪声系数(NF)为10~12dB,图2中系统的噪声系数约为2~3dB。
图1电磁干扰测试全频段扫描示意图
图2电磁干扰测试所用频段干扰测试示意图
首先选择好仪器,基本仪器包括频谱仪(YBT250)、带通滤波器、测试天线、车辆、GPS、指北针、低噪放大器(LNA)、便携机、50欧姆匹配负载。
同时需要带足够数量的馈线,还要注意各连接之间的接头类型。
测试前需要准备的仪器设备和资料如下:
表1测试前需要准备的仪器和资料
设备和资料
接头型号
八木天线
N型阴头
带通滤波器
N型阴头
YBT250频谱仪
N型阴头
LNA
SMA型阴头
馈线
N型阳头
馈线
N型阳头/SMA型阳头
50欧姆匹配负载
N型阳头
便携机
GPS
指北针
WCDMA电磁干扰测试指导书
WCDMA电磁干扰测试表
测试车辆
3清频操作过程
在进行干扰测试前,需要得到运营商和当地无委会的帮助,充分了解当地无线频段划分和企业使用无线电设备情况。
实验局阶段,由于运营商的可用频率没有确定,为选择比较干净的频率,建议清频测试时首先做全频段扫描,然后根据无委提供的频率资源情况选若干个5M进行测试,并作详细记录,记录时以5M为单位(起始频率与系统频率划分一致),对每个5M进行分析,供后期备选。
在实验局阶段,由于试验频段是临时分配的,因此需要考虑新建的WCDMA设备对现有网络设备是否造成影响。
商用阶段,运营商的频率资源是确定的,没有可选择的余地,测试的重点是运营商可用频段,主要作用是排除所用频段内的干扰。
3.1确定测试方位
对于上行链路电磁干扰测试,测试地点应该选择基站天线架设的位置,天线可以选用八木天线。
对于下行链路电磁干扰测试,应该在小区的覆盖范围内选择一定数量的典型点进行测试,实际测试的时候分为定点测试和驱车测试。
下行链路的定点测试也选择基站天线架设的位置,与上行链路测试结合,天线选用八木天线;驱车测试可以在小区覆盖的主要街道进行慢速行使,首先使用路测设备SCANNER的频谱仪功能进行简单测试,发现强干扰后再使用YBT250进行下行定点测试(下行驱车测试项根据测试条件和要求可选)。
上下行定点测试地点应该选择基站天线架设的位置,一般选择东西南北四个方向测试。
如果基站天线方向已确定,则让测试天线与基站天线方向一致。
3.2仪器参数设置
在测试过程中,需要对以下基本参数进行设置。
表2YBT250关键参数
参数名称
参数数值
备注
f0
见下文中测量过程的设置
所测频谱的中心频率
SPAN
见下文中测量过程的设置
可测试的频谱宽度
Trace
针对干扰是偶发的还是连续的,分别选择MAXHOLD/Average
最大值显示/平均值显示
RefLvl
见下文中测量过程的设置,不允许使用AutoLevel档
参考电平值
VerticalScale
10dB/div(默认值),见下文中测量过程的设置
纵轴刻度
3.3干扰搜索
3.3.1上下行定点干扰测试过程
1.整个频段(100MHz~2500MHz)扫描,观察主要存在哪些系统信号,信号强度如何。
按照图1连接好八木天线和YBT250,并且确认输入信号未超过YBT250的最大输入功率。
设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,按照下表进行参数设置。
表3频段扫描测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
200MHz
SPAN
200MHz
Trace
选择Average模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
填写记录表格,保存数据文件,检查存在哪些系统信号,强度如何(判断原则是存在高于底噪的信号波形)。
然后依次设置f0增加200MHz,f0=400MHz,600MHz,…,2400MHz,SPAN=200MHz,进行干扰搜索。
填写记录表格,保存数据文件,检查存在哪些系统信号,强度如何(判断原则是存在高于底噪的信号波形)。
2.在60MHz带宽内(1920MHz~1980MHz或者2110MHz~2170MHz)扫描频谱,观察是否存在持续干扰,或者是否存在整个频段底噪的抬升。
首先按照图2连接好系统,断开天线与滤波器的连接,外接50欧姆的匹配负载,得到YBT250在SPAN=60MHz的底噪电平值。
1)当连接LNA时,首先在Setup->Edit项中,选择Inputs单元,如图3所示。
选中Externalamplifierconnected,设置LNA的增益25dB。
图3连接LNA时在YBT250中设置增益
2)设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,按照下表进行参数设置。
保存数据,以便与后面的上行干扰测试对比。
表1SPAN=60MHz上行干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
1950MHz
SPAN
60MHz
Trace
选择Average模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
3)改变f0,设置为2140MHz,其它参数不变,按照下表进行参数设置。
保存数据,以便与后面的下行干扰测试对比。
表2SPAN=60MHz下行干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
2140MHz
SPAN
60MHz
Trace
选择Average模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
然后按照图2连接八木天线、带通滤波器、LNA、YBT250,并且确认LNA和YBT250是否处于过载状态,检查步骤如下:
1)当连接LNA时,首先在Setup->Edit项中,选择Inputs单元,如图3所示。
选中Externalamplifierconnected,设置LNA的增益25dB。
2)在LNA的放大频带内,LNA的输出信号功率至少要比LNA的1dB压缩点功率小10dB。
3)YBT250频谱仪的输入信号要小于YBT250的最大允许输入信号功率30dBm。
干扰搜索的步骤如下:
1)上行1920MHz~1980MHz频段干扰搜索
设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,按照表4进行参数设置,然后进行干扰搜索,观察是否存在明显的干扰,如果没有强的干扰,为了观察底噪抬升,参考电平的设置与前面接匹配负载时的参考电平相同,纵轴刻度为10dB/div,调用前面保存的加匹配负载的上行频段底噪波形,具体操作如下:
点击菜单View->DefineTrace2,设置窗口如图4所示。
选中Viewtrace2,并选择Savedtrace选项,点击Browse按钮,选择需要调用的trace。
观察是否存在明显的底噪抬升。
图4Trace2的调用设置窗口
如果存在强的干扰,根据干扰信号的大小,重新设置参考电平的大小,使得信号的变化都能显示在频谱仪上,纵轴刻度为10dB/div。
调用前面保存的加匹配负载的上行频段底噪波形,具体操作与前面的相同。
填写记录表格,保存数据文件,检查是否存在干扰(判断原则是存在高于底噪的干扰波形)以及底噪的抬升。
2)下行2110MHz~2170MHz频段干扰搜索
设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,按照表5进行参数设置,然后进行干扰搜索,观察是否存在明显的干扰,如果没有强的干扰,为了观察底噪抬升,参考电平的设置与前面接匹配负载时的参考电平相同,纵轴刻度为10dB/div,调用前面保存的加匹配负载的下行频段底噪波形,具体操作如下:
点击菜单View->DefineTrace2,设置窗口如图4所示。
选中Viewtrace2,并选择Savedtrace选项,点击Browse按钮,选择需要调用的trace。
观察是否存在明显的底噪抬升。
如果存在强的干扰,根据干扰信号的大小,重新设置参考电平的大小,使得信号的变化都能显示在频谱仪上,纵轴刻度为10dB/div。
调用前面保存的加匹配负载的下行频段底噪波形,具体操作与前面的相同。
填写记录表格,保存数据文件,检查是否存在干扰(判断原则是存在高于底噪的干扰波形)以及底噪的抬升。
3.根据运营商要求测试的上行频段和下行频段,设置f0,SPAN=5MHz,进一步确定运营商可用频段是否存在持续干扰或者间歇干扰,或者整个测试频段底噪抬升。
首先按照图2连接好系统,断开天线与滤波器的连接,外接50欧姆的匹配负载,得到YBT250在SPAN=5MHz的底噪值。
1)当连接LNA时,首先在Setup->Edit项中,选择Inputs单元,如图3所示。
选中Externalamplifierconnected,设置LNA的增益25dB。
2)设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,按照下表进行参数设置。
保存数据,以便与后面的上行干扰测试对比。
表1SPAN=5MHz上行干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
根据运营商所用上行频段设置
SPAN
5MHz
Trace
选择Average模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
3)改变f0,设置为运营商可用下行频段,其它参数不变,按照下表进行参数设置。
保存数据,以便与后面的下行干扰测试对比。
表2SPAN=5MHz下行干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
根据运营商所用下行频段设置
SPAN
5MHz
Trace
选择Average模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
然后按照图2连接好八木天线、带通滤波器、LNA、YBT250,并且确认LNA和YBT250是否处于过载状态,检查步骤如下:
1)当连接LNA时,首先在Setup->Edit项中,选择Inputs单元,如图3所示。
选中Externalamplifierconnected,设置LNA的增益25dB。
2)在LNA的放大频带内,LNA的输出信号功率至少要比LNA的1dB压缩点功率小10dB。
LNA的输入信号要小于10dBm。
3)YBT250频谱仪的输入信号要小于YBT250的最大允许输入信号功率30dBm。
首先测试持续存在的干扰,测试步骤如下:
1)设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,设置SPAN=5MHz,Trace为Average模式,进行干扰搜索,观察是否存在明显的干扰。
比如运营商可用上行频段为1930MHz~1940MHz,则可设置f0=1932.5MHz和1937.5MHz,SPAN=5MHz。
如果没有强的干扰,为了观察底噪抬升,参考电平的设置与前面接匹配负载时的参考电平相同,纵轴刻度为10dB/div,调用前面保存的加匹配负载的上行频段底噪波形,具体操作如下:
点击菜单View->DefineTrace2,设置窗口如图4所示。
选中Viewtrace2,并选择Savedtrace选项,点击Browse按钮,选择需要调用的trace。
观察是否存在明显的底噪抬升。
如果存在强的干扰,根据干扰信号的大小,重新设置参考电平的大小,使得信号的变化都能显示在频谱仪上,纵轴刻度为10dB/div。
调用前面保存的加匹配负载的上行频段底噪波形,具体操作与前面的相同。
填写记录表格,保存数据文件,检查是否存在干扰(判断原则是存在高于底噪的干扰波形),或者整个测试频段底噪抬升。
2)设置YBT250进入清频测试的频谱(spectrum)界面,设置SPAN=5MHz,Trace为Average模式,进行干扰搜索,观察是否存在明显的干扰。
比如运营商可用下行频段为2120MHz~2130MHz,则可设置f0=2122.5MHz和2127.5MHz,SPAN=5MHz。
如果没有强的干扰,为了观察底噪抬升,参考电平的设置与前面接匹配负载时的参考电平相同,纵轴刻度为10dB/div,调用前面保存的加匹配负载的下行频段底噪波形,具体操作如下:
点击菜单View->DefineTrace2,设置窗口如图4所示。
选中Viewtrace2,并选择Savedtrace选项,点击Browse按钮,选择需要调用的trace。
观察是否存在明显的底噪抬升。
如果存在强的干扰,根据干扰信号的大小,重新设置参考电平的大小,使得信号的变化都能显示在频谱仪上,纵轴刻度为10dB/div。
调用前面保存的加匹配负载的下行频段底噪波形,具体操作与前面的相同。
填写记录表格,保存数据文件,检查是否存在干扰(判断原则是存在高于底噪的干扰波形),或者整个测试频段底噪抬升。
然后测试间歇存在的干扰,测试步骤如下
1)设置YBT250进入清频测试的三维频谱(Spectrogram)界面,按照表8进行参数,然后进行干扰搜索。
比如运营商可用上行频段为1930MHz~1940MHz,则可设置f0=1935MHz,SPAN=10MHz。
表3采用Spectrogram方法SPAN=10MHz上行间歇干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
根据运营商所用上行频段设置
SPAN
10MHz
Trace
选择Normal模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
填写记录表格,保存数据文件,根据信号三维频谱图检查是否存在间歇干扰。
图5是GSM900存在间歇干扰的三维频谱图。
2)设置YBT250进入清频测试的三维频谱(Spectrogram)界面,按照表9进行参数设置,然后进行干扰搜索。
比如运营商可用上行频段为2120MHz~2130MHz,则可设置f0=2125MHz,SPAN=10MHz。
表4SPAN=10MHz下行间歇干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
根据运营商所用下行频段设置
SPAN
10MHz
Trace
选择Normal模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置,不允许使用AutoLevel档
VerticalScale
10dB/div(默认值)
填写记录表格,保存数据文件,根据信号三维频谱图检查是否存在间歇干扰。
图5存在间歇干扰的三维频谱图
当然测试间歇存在的干扰也可以采用另一种方法,测试步骤如下:
1)设置YBT250进入清频测试的频谱(Spectrum)界面,按照表10进行参数,然后进行干扰搜索。
比如运营商可用上行频段为1930MHz~1940MHz,则可设置f0=1935MHz,SPAN=10MHz。
表1采用Spectrum方法SPAN=10MHz上行间歇干扰测试参数设置
参数名称
参数数值
f0
根据运营商所用上行频段设置
SPAN
10MHz
Trace
选择MaxHold模式
RefLvl
参考电平根据测试信号的大小设置,尽量使信号处于频谱仪的中间位置
VerticalScale
10dB/div(默认值)
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